Mgr. Daniel Franta, Ph.D.

2004

• Complete Characterization of Rough Polymorphous Silicon Films by Atomic Force Microscopy and the Combined Method of Spectroscopic Ellipsometry and Spectroscopic Reflectometry

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan KLAPETEK Petr ROCA I CABARROCAS Pere

  Článek v odborném periodiku

  Thin Solid Films, rok: 2004, ročník: 455-456, vydání: 1

• Characterization of thin oxide films on GaAs substrates by optical methods and atomic force microscopy

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan KLAPETEK Petr OHLÍDAL Miloslav

  Článek v odborném periodiku

  Surface and Interface Analysis, rok: 2004, ročník: 36, vydání: 8

• Influence of Composition, Exposure and Thermal Annealing on Optical Properties of As-S Chalcogenide Thin Films

  OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel FRUMAR Miroslav JEDELSKÝ Jaroslav OMASTA Jaroslav

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Optoelectronics and Advanced Materials, rok: 2004, ročník: 6, vydání: 1

• Mechanical stresses studied by optical methods in diamond-like carbon films containing Si and O

  OHLÍDAL Ivan OHLÍDAL Miloslav FRANTA Daniel ČUDEK Vladimír BURŠÍKOVÁ Vilma ŠILER Martin

  Článek ve sborníku

  SPIE's 49th Annual Meeting, rok: 2004

• Optical Properties of Diamond-Like Carbon Films Containing SiOx Studied by the Combined Method of Spectroscopic Ellipsometry and Spectroscopic Reflectometry

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan BURŠÍKOVÁ Vilma ZAJÍČKOVÁ Lenka

  Článek v odborném periodiku

  Thin Solid Films, rok: 2004, ročník: 455-456, vydání: 1

• Optical properties of ZnTe films prepared by molecular beam epitaxy

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan KLAPETEK Petr MONTAIGNE-RAMIL Alberto BONANNI Alberta STIFTER David SITTER Helmut

  Článek v odborném periodiku

  Thin Solid Films, rok: 2004, ročník: 468, vydání: 1-2

2003

• Aplikace mikroskopie atomové síly při analýze tenkých vrstev ZnSe a ZnTe

  OHLÍDAL Ivan KLAPETEK Petr FRANTA Daniel

  Článek v odborném periodiku

  Československý časopis pro fyziku, rok: 2003, ročník: 53, vydání: 2

• Atomic force microscopy characterization of ZnTe epitaxial films

  KLAPETEK Petr OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel MONTAIGNE-RAMIL Alberto BONANNI Alberta STIFTER David SITTER Helmut

  Článek v odborném periodiku

  Acta Physica Slovaca, rok: 2003, ročník: 53, vydání: 3

• Expression of the optical constants of chalcogenide thin films using the new parameterization dispersion model

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan FRUMAR Miloslav JEDELSKÝ Jaroslav

  Článek v odborném periodiku

  Applied Surface Science, rok: 2003, ročník: 212-213, vydání: 1

• New Dispersion Model of the Optical Constants of the DLC Films

  FRANTA Daniel ZAJÍČKOVÁ Lenka BURŠÍKOVÁ Vilma OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Acta Physica Slovaca, rok: 2003, ročník: 53, vydání: 5