2004

• Annealing studies of high Ge composition Si/SiGe multilayers

  MEDUŇA Mojmír NOVÁK Jiří HOLÝ Václav BAUER Günther FALUB Claudiu TSUJINO Soichiro MÜLLER Elisabeth GRÜTZMACHER Detlev CAMPIDELLI Yves KERMARREC Olivier BENSAHEL Daniel

  Článek v odborném periodiku

  Zeitschrift fur Kristalographie, rok: 2004, ročník: 219, vydání: 4

• Anomalous oxygen-isotope effect on the in-plane far-infrared conductivity of detwinned (YBa2Cu3O6.9)-O-16,18

  BERNHARD Christian HOLDEN Todd BORIS Alexandr KOVALEVA Natalia PIMENOV Alexei HUMLÍČEK Josef

  Článek v odborném periodiku

  Physical Review B, rok: 2004, ročník: 69, vydání: 5

• Atomic Force Microscopy Analysis of Statistical Roughness of GaAs Surfaces Originated by Thermal Oxidation

  KLAPETEK Petr OHLÍDAL Ivan NAVRÁTIL Karel

  Článek v odborném periodiku

  Microchimica Acta, rok: 2004, ročník: 147, vydání: 3

• Diffraction effects in infrared ellipsometry of conducting samples

  HUMLÍČEK Josef BERNHARD Christian

  Článek v odborném periodiku

  Thin Solid Films, rok: 2004, ročník: 455-456, vydání: 1

• Electronic Structure and Optical Properties of InAs/GaAs Quantum Dots

  KŘÁPEK Vlastimil FIKAR Jan HUMLÍČEK Josef

  Článek ve sborníku

  WDS'04 Proceedings of contributed papers, rok: 2004

• Experimental study of Ni3Al slip traces by atomic force microscopy: an evidence of mobile dislocation exhaustion

  FIKAR Jan COUPEAU Christophe KRUML Tomáš BONNEVILLE Joel

  Článek v odborném periodiku

  Materials Science and Engineering A, rok: 2004, ročník: 387-389, vydání: 1

• Far-infrared ellipsometry using a synchrotron light source - the dielectric response of the cuprate high Tc superconductors

  BERNHARD Christian HUMLÍČEK Josef KEIMER Bernhard

  Článek v odborném periodiku

  Thin Solid Films, rok: 2004, ročník: 455-456, vydání: 1

• High-resolution diffuse x-ray scattering from threading dislocations in heteroepitaxial layers

  HOLÝ Václav DANIŠ Stanislav BAUER Guenther ZHONG Zhenyang

  Článek v odborném periodiku

  Applied Physics Letters, rok: 2004, ročník: 85, vydání: 7

• High-Resolution X-Ray Scattering From Thin Films to Lateral Nanostructures

  HOLÝ Václav PIETSCH Ullrich BAUMBACH Tilo

  Odborná kniha

  Rok: 2004, počet stran: 408 s.

• Infrared Absorption Spectroscopy of Oxygen Precipitates in Czochralski Silicon

  ŠTOUDEK Richard HUMLÍČEK Josef

  Článek ve sborníku

  WDS'04 Proceedings of Contributed Papers, rok: 2004