2004

• PtSi formation on silicon substrate

  BOCHNÍČEK Zdeněk ČECHAL Jan ŠIKOLA Tomáš KRČMÁŘ Jan

  Článek ve sborníku

  22nd European Crystallographic Meeting, Abstracts, rok: 2004

• Shape and composition change of Ge dots due to Si capping

  HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  Applied Surface Science, rok: 2004, ročník: 224, vydání: 2

• Structural properties of self-organized semiconductor nanostructures

  HOLÝ Václav STANGL Julian BAUER Guenther

  Článek v odborném periodiku

  Review of Moder Physics, rok: 2004, ročník: 76, vydání: 4

• Synchrotron-radiation X-ray tomography: a method for 3D imaging of cement microstructure and its evolution during hydration

  BAUMBACH T. HELFEN L. MIKULÍK Petr DEHN F.

  Článek ve sborníku

  Proceedings of XIV. International Symposium SANACE 2004, rok: 2004

• Temperature dependence of ellipsometric spectra of poly(methyl-phenylsilane)

  BONAVENTUROVÁ ZRZAVECKÁ Olga NEBOJSA Alois NAVRÁTIL Karel NEŠPŮREK Stanislav HUMLÍČEK Josef

  Článek v odborném periodiku

  Thin Solid Films, rok: 2004, ročník: 455/2004, vydání: may

• X-ray diffraction on laterally modulated (InAs)n/(AlAs)m short-period superlattices

  CAHA Ondřej KŘÁPEK Vlastimil HOLÝ Václav MOSS S. LI J. NORMAN A. MASCARENHAS A. RENO J. STANGL J. MEDUŇA Mojmír

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Applied Physics, rok: 2004, ročník: 96, vydání: 9

• X-ray Diffuse Scattering from Defects in Nitrogen-doped Czochralski Grown Silicon Wafers

  KLANG Pavel HOLÝ Václav ŠTOUDEK Richard ŠIK Jan

  Článek ve sborníku

  Proceedings of The Ninth Scientific and Business Conference SILICON 2004, rok: 2004

• X-ray reflection study of early stages of Pt silicide formation

  BOCHNÍČEK Zdeněk ČECHAL Jan ŠIKOLA Tomáš

  Článek ve sborníku

  7th Bienal Conference on High Resolution X-ray Diffraction and Imaging, Book of abstracts, rok: 2004

2003

• Approximate tight-binding sum rule for the superconductivity-related change of c-axis kinetic energy in multilayer cuprate superconductors

  MUNZAR Dominik HOLDEN Todd BERHARD Christian

  Článek v odborném periodiku

  Physical Review B, rok: 2003, ročník: 67, vydání: January

• Composition determination in quantum dots with in-plane scattering compared with STEM and ADX analysis

  HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  J. Phys. D: Appl. Phys., rok: 2003, ročník: 36, vydání: 10